霍尔效应测试仪（HEM）

简要描述：可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量，是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

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产品应用：

可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量，是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

产品特点：

1、高精度电流源，输出精度可达0.1微安，可测量大部分半导体材料。

2、高精度电压源，24位ADC采集，精度可达微伏级。

3、可靠的重复性，软硬件设计多重滤波，使测量数据更稳定，确保每个实验数均为多次测试好的平均值。

4、简约大气的外观设计，仪器连接操作简单，完成样品信息设置后，用户可一键点击测试，即可同时得到电阻率、载流子浓度、霍尔系数与方阻数据。

5、测试速度快，支持快速切换电流与磁场方向，通过范德堡法进行数据处理。

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